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X熒光光譜儀616系列 真空型

616是606型的升級版, 更好地應對ROHS、無鹵等環保指令, 配置了真空測試系統, 加了元素測試范圍探測器配備SDD的測試系統, 特別是提高了NA、MG、AL、SI等輕元素的檢出限精確度提高了

產品介紹introduction
616是606型的升級版, 更好地應對ROHS、無鹵等環保指令, 配置了真空測試系統, 加了元素測試范圍探測器配備SDD的測試系統, 特別是提高了NA、MG、AL、SI等輕元素的檢出限精確度提高了,同時在測試CD/PB/CR/HG/BR/CL等其他元素的重復性穩定性有了明顯的提高。
應用領域:合金(如不銹鋼、銅合金、鋁合金等合金)所含元素含量分析(如CU、ZN、PB、SN、FE、NI、MN、SB、AL、SI、CR、MO、CO、TI、V等元素)。
 
   
型號 R-616(真空型)能量色散X射線熒光光譜儀
分析元素 元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍為1PPm到99.99%
技術指標 RoHS指令規定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl)其檢測限度最高達1PPM
測試樣品時間:60-300秒可調
樣品形狀:任意大小,任意不規則形狀; 樣品類型:塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
探測器 美國Amptek SDD探測器,高速脈沖分析系統,電致冷而非液氮制冷,體積小、數據分析準確
真空系統 具有低震動、低噪音、自保護及抽速快等優良性能的真空泵系統
幾何抽速:60 L/min(50Hz),  極限壓力:6.7×10-2 Pa
高壓電源 美國 Spellman    50w(50kv/MA)
工作環境 工作溫度:15-30℃,相對濕度:30%-80%,電源:AC 220 V、50 Hz,測定條件:大氣環境
樣品監測系統 在軟件測試界面可實時觀察樣品狀態和放置樣品測試前微動調整樣品位置,樣品測試完成后圖樣清楚呈現在測試報告中
軟體系統 鍍層測厚:一次可同時分析3層以上鍍層,分析檢出限可達0.01μm,分析厚度一般為0.1μm到30μm之間,重復性可達0.1μm
定的量精分準析測計試算。多,種運語用言理操論作Alp界h面a系,操數作法簡(N單BS,-一GS鍵C式法設) 、計集,成可F生P、成法各經種驗定系制數報法告,針,能對夠Ro自H動S無輸鹵出元PD素(F、PEbX,CCEdL,等H報g,告Br格,C式r,Cl)
外形尺寸、重量 690mm*550mm*420mm、重約60KG
樣品腔尺寸 開放式大樣品腔:610mm×320mm×100mm;半封閉樣品腔(抽真空時):Φ100mm×h75mm


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